島津二手x熒光分光光度計EDX-700HS

島津二手x熒光分光光度計EDX-700HS

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儀器實拍：

一、島津二手x熒光分光光度計EDX-700HS主機部分：

X射線發(fā)生器單元

X射線管

類型 Rh靶

冷卻方法 空冷（附風扇）

2X射線電源單元

電壓 5-50kV，每步1Kv（測定重金屬（Cd,Pb,Hg,Br,Cr等）時，可以用50ｋV。但測定輕元素時，15kV是***有效的。另在工作曲線法中，隨時可設定***佳電壓。） 電流 1-1000μA，每步1μA

穩(wěn)定度 ±0.01%（外電壓波動±10%）

保護電路 過電壓， 過電流， 過功率，

X射線連鎖保護

（特點說明：電壓、電流可以由計算機控制自動調(diào)節(jié)，滿足不同元素的高精度分析，同時滿足RoHS，ELV指令擴展的要求）

3、一次X射線濾波片 5種自動交換

（特點說明：不同元素應該采用不同的濾光片進行分析，這樣才能有效降低背景，得到高準確度的測量數(shù)據(jù)。EDX-720進行元素分析時可以自動判斷元素和更換相應的濾光片，無須手動更換）

二、島津EDX-700hs射線熒光光譜儀檢測器：

1、檢測器

類型 Si（Li）檢測器

液氮 只有在分析時添加

液氮消耗 少于1升/天

檢測面積 10mm2

分析元素 Na-U

分辨率 ：小于150電子伏特

（特點說明：采用液氮制冷方式的檢測器具有高分辨率，可以避免元素譜線之間的干擾，從而保證高準確度的分析。在性能、實績、穩(wěn)定性上，Si（Li）半導體是對性的實績（島津檢測器是自己生產(chǎn)，在萬一發(fā)生故障也迅速對應）。 掘場按振動檢測器的性能下降。 精工較差的Si-PIN半導體分辨率為220eV、在分析樹脂中的Cd、Pb時，容易受到Br和Sb等共存元素的干擾、并有時不能檢出，還有因為是低強度，在測試金屬中有害元素的感度也差。）

2、計數(shù)單元

放大器

擬合時間 10μ秒

增益變化 高/低

多道分析器（MCA）

變頻型 順序比較ADC

道數(shù) 2048道

***大計數(shù)率 232-1/道

三、島津EDX-700 hs射線熒光光譜儀樣品室與測定室單元

1、樣品室

二手島津X射線熒光光譜分析儀EDX-700HS，二手熒光光譜分析儀蓋子 自動開啟/關閉（帶安全系統(tǒng)）

每次測定時蓋子自動上升與下降。

***大樣品尺寸 300mm 直徑 x 150mm高

二手島津X射線熒光光譜分析儀EDX-700HS，二手熒光光譜分析儀（特點說明：樣品室自動開啟，樣品蓋子的結(jié)構設計有效避免X光的泄露，滿足日本及中國X射線的泄露控制標準。超大型的樣品室可以容納大型的部件直接放入測試，無須切割）

2、測定室

X射線照射面積 下照射

光欄直徑 1、3、5、10mm可選

（特點說明：不同的分析面積采用不同尺寸的光欄，可以保證各種大小樣品的高精度測試。）

測定室開孔 13mm

3、測定氣氛：大氣

4、CCD觀察定位系統(tǒng)

配備CCD數(shù)碼觀察系統(tǒng)，可以準確定位分析區(qū)域。